Suporte multi-amostra para realizar multi-análises num só varrimento em micro-tomografia computorizada

Resumo

A invenção configura um suporte multi-amostra para realizar multi-análises num só varrimento (com recurso a apenas uma aquisição tomográfica) em micro-tomografia computorizada ou 3D X-ray microscopy. Inclui um sistema de identificação que permite localizar as amostras durante e após a aquisição das imagens, bem como na fase de reconstrução e análise. O suporte é versátil, o desenho é flexível, permitindo um rearranjo na posição das amostras. É multifuncional e pode ser aplicado em diversas áreas do conhecimento. O invento permite uma redução de 75% no tempo de scan e no custo envolvido, bem como uma redução de 60% no armazenamento informático.

Aplicações e/ou Mercado alvo

Aplicação em áreas que necessitem da tecnologia micro-CT (ou 3D X-ray microscopy) para analisar as suas amostras. Áreas industrial e das ciências médicas (imagiologia médica, clínica e pré-clínica).

IPC

G01N1/00

Número da publicação

PT115889

Publicação

WIPO

Data de publicação

4 de novembro de 2019

Estado do DPI

Patente Portuguesa PT115889- Concedida

Inventores

Mário Rito Pereira

Margarida Rosa da Costa Lima Cabrita Franco

Nuno Manuel Fernandes Alves

Isabel Maria da Cruz Beleza de Vasconcelos Ferreira

Requerentes

Instituto Politécnico de Leiria

Contactos

otic@ipleiria.pt